本發明公開了一種電子產品防塵性能無損測試方法,包括以下步驟,干燥處理,將電子產品放置在高溫干燥箱中干燥,然后靜置一段時間取出;電子產品預處理,對經過干燥處理的電子產品進行檢查,檢查電子產品中密封圈的硬度、老化程度和形變,并記錄數據;開啟測試,向砂塵箱中加入砂塵粉和鐵屑粉,將電子產品放入砂塵箱中,砂塵箱的風扇通電工作;停止測試,關閉砂塵箱的風扇,等待砂塵完全沉降后打開砂塵箱,取出電子產品。本發明的優點在于砂塵粉中混入鐵屑粉,再將電子產品置于砂塵箱中,砂塵箱進行低頻振動,電子產品的磁力能夠吸引鐵屑粉,在振動的作用下鐵屑粉更容易進入電子產品內部,從而提高防塵測試的效果。
聲明:
“電子產品防塵性能無損測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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