一種無損測量行波管熱阻構成的方法及裝置,涉及微波真空電子器件檢測技術領域。所述裝置包括:熱阻測試儀、測試探頭和被測行波管。所述方法包括:將測試探頭放入被測行波管的螺旋線內,測試二極管在工作電源提供的電壓與電流下工作時產生的熱量經傳熱觸頭傳遞到螺旋線,并經陶瓷夾持桿、管殼散熱到周圍環境,采集卡采集到加熱過程中測試二極管的電學溫敏參數的變化,并經計算得到被測行波管的散熱通道的熱阻構成。本發明實現了非破壞性地測量行波管的熱阻構成并定點研究其散熱情況,檢測散熱能力,測量無損傷、周期短、精度高、成本低,較現有技術有著明顯的突破性。
聲明:
“無損測量行波管熱阻的方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)