本發明公開了一種無損預制構件內部缺陷檢測方法及系統;所述方法,包括:獲取探測掃描圖像;其中,所述探測掃描圖像是由雷達主機向被測預制構件發射寬帶窄脈沖信號,并對回波信號進行同步采集得到的;基于標準預制構件的標準掃描圖像,對探測掃描圖像進行對齊操作;對對齊操作處理后的探測掃描圖像進行去噪處理;對去噪后的探測掃描圖像,采用訓練后的缺陷檢測網絡進行缺陷類型檢測和缺陷區域標注,實現功耗和輻射降低的效果。
聲明:
“無損預制構件內部缺陷檢測方法與系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)