本發明涉及檢測輔助技術領域,具體涉及一種無損檢測導向裝置以及掃查方法,所述裝置包括與被檢測件的特征建立坐標關系的導向架;與被檢測件的特征、導向架建立坐標關系并將導向架連接在被檢測件上的定位件;以及活動導軌,可調節連接在導向架上并用于探頭的移動掃查;本發明通過利用被檢測件本身具備的特征制作導向裝置,能夠利用被檢測件特征具有的結構特征和精度要求,能夠提升被檢測件結構上平板焊縫相控陣檢測探頭沿線掃查精度,且不受被檢測件材料影響,無需在檢測面劃線,即使是表面磨平后仍然能準確控制探頭沿線掃查時的精度。
聲明:
“無損檢測導向裝置以及掃查方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)