本發明公開了一種無損檢測下的芯片質量的評估系統及方法,所述評估系統包括參照信息采集模塊、評估信息獲取模塊和分析評估模塊,所述參照信息采集模塊預先采集合格芯片的圖像信息作為參照信息,所述參照信息包括字符信息、表面信息和管腳信息,所述評估信息獲取模塊獲取待檢測芯片的圖像為評估圖像,對評估圖像進行預處理得到待評估信息,所述待評估信息包括待評估字符、待評估表面和待評估管腳,所述分析評估模塊對參照信息和待評估信息分析,評估待檢測芯片質量是否合格,在評估待檢測芯片存在不合格時,輸出待檢測芯片的不合格內容。
聲明:
“無損檢測下的芯片質量的評估系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)