本發明涉及一種利用高光譜圖像技術進行蘋果粉質化無損檢測方法。本發明的技術方案為:a、選取蘋果樣本;b、將蘋果樣本放置在高光譜圖像采集系統中,采集對應蘋果樣本的高光譜圖像,并將所述光譜圖像量化成對應于不同光波長的數據矩陣;c、利用奇異值分解得到數據矩陣的奇異值矩陣;d、利用破壞性儀器采集蘋果樣本的汁液含量和壓縮硬度指標,得到蘋果粉質化結果;e、利用支持向量機構建蘋果粉質化評價預估模型;f、采集高光譜圖像,并輸入到評價預估模型中,獲得蘋果粉質化評價結果。本發明通過評價預估模型及高光譜圖像采集系統獲得蘋果的粉質化評價結果,能夠在多數蘋果無損的情況下,得到粉質化評價結果;操作簡單,實時性好,可靠性高。
聲明:
“利用高光譜圖像技術進行蘋果粉質化無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)