本實用新型為一種對各種材料和器件表面進行無損缺陷檢測的裝置,特別是采用渦流法進行檢測的磁光渦流成像無損檢測裝置,由架體縱向固定的半導體激光光源、偏振分光器、磁感應器及磁感應器下端固定的法拉第旋轉元件和架體橫向固定的偏振分光器、偏振片、凸透鏡、成像顯示器構成,其中,偏振分光器在縱、橫架體的交叉點上,偏振分光器沿45°角鍍有下層單向反光膜。本實用新型與現有渦流檢測相比優點是:檢測準確度高,是現有渦流檢測效率的5-50倍;檢測時無需對被測件表面油漆等清除;檢測結果圖象化,直觀易懂,可通過錄象保存。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)