一種SERS拉曼芯片單色透過光強定標無損質檢方法與設備,所述方法是,采用單色光源透過光強(HSP)間接表征定標樣品拉曼峰高(HRS)的“HSP~HRS”定標無損質檢測技術:一,選一組不同靈敏度定標拉曼芯片,在紫外可見光源的消光透過光譜曲線中,找出消光光譜?SPR主峰峰位、?SPR次峰峰位、?與SPR效應敏感的其它適用單色光的峰位;或通過數值模擬找出上述三類峰位;二,在所述三類峰位中優選其一,相繼檢測所述定標拉曼芯片組的單色光源的HSP和HRS;三,創建“HSP~HRS”定標曲線;四,在所述單色透過光強HSP~HRS定標設備上,實施所述拉曼芯片無損檢測,解決SERS拉曼芯片靈敏度質量無損檢測問題。
聲明:
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