本實用新型提供了一種用于射線無損檢測的微調裝置及具有其的檢測系統,包括:載物臺,用于放置待檢物;X軸微調機構,連接在載物臺下端,用于沿X軸方向移動載物臺;Y軸微調機構,連接在X軸微調機構下端,用于沿Y軸方向移動X軸微調機構從而改變載物臺的位置。本實用新型通過利用微調裝置安裝在檢測系統的旋轉臺上來對待檢物的位置進行微調,使待檢物的檢測位置盡可能處在檢測射線的中心周圍,從而有利于在CT系統的投影和重建過程需要滿足旋轉中心、探測器中心、射線源焦點三者在一條直線上并且垂直于探測器的條件,并快速獲得最佳幾何放大比,提高CT檢查系統的檢測精度。
聲明:
“用于射線無損檢測的微調裝置及具有其的檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)