本發明屬于材料測試領域,具體為一種可定位薄區位置的透射電鏡樣品制備裝置和方法。包括電化學反應單元,原位觀察單元,樣品安裝單元,拋光定位單元,圖像采集單元和控制系統;電化學反應單元采用陰極拋光針對與陽極連接的樣品的電解拋光;原位觀察單元用于觀察樣品的側面和正面,確定并定位陰極拋光針相對樣品表面的距離;試樣安裝單元用于安裝樣品,并調節樣品的位置;拋光定位單元用于調節陰極拋光針相對于樣品表面的位置和距離;圖像采集單元用于采集樣品的實時圖像并顯示于控制系統。本發明具有在局部電解拋光過程中不會引入離子注入的特點,可以實現對于需要拋光區域進行精準定位等優點,為微尺度樣品的結構表征提供新的樣品制備方法。
聲明:
“可定位薄區位置的透射電鏡樣品制備裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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