本發明涉及一種色譜儀實現痕量組分的濃縮進樣方法,屬于色譜儀進樣的改進技術。樣品為氣體或液體時,在色譜柱入口處設置初級和次級濃縮裝置,初級濃縮裝置完成濃縮后,提高其溫度,組分發射至次級濃縮裝置中濃縮,再立即提升次級裝置的溫度,將濃縮的組分樣品發射至色譜柱;樣品為液體或固體時,在色譜柱入口處設置加熱器和次級濃縮裝置,使樣品中痕量組分進入次級濃縮裝置,立即提升次級濃縮裝置溫度,將組分發射至色譜柱;有化學反應時,在色譜入口處設置反應器和次級濃縮裝置,反應產生的揮發性成分進入次級濃縮裝置,反應結束后提高次級濃縮裝置的溫度,將濃縮的組分發射至色譜柱。本發明的優點在于適用性廣、進樣譜帶窄和檢測靈敏度高。
聲明:
“色譜儀實現痕量組分的濃縮進樣方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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