本發明公開了一種中子輻照前鋯合金掃描電鏡試樣預處理方法,先對試樣進行磨拋再進行酸洗,所述磨拋依次包括粗拋和精拋,所述粗拋為試樣在不同顆粒度的砂紙上由粗到細依次磨制,磨制方式為每更換一次砂紙時,將試樣旋轉90°與舊磨痕成垂直方向繼續磨制,直到舊磨痕完全消失,且新磨痕均勻一致為止。本發明所述方法通過對試樣表面進行磨拋和化學腐蝕(酸洗),可最大程度的減小中子輻照注入面的粗糙度和應力層。此外,利用該方法制得的掃描電鏡鋯合金試樣經中子輻照后可直接利用掃描電鏡進行顯微組織和成分分析,避免輻照后制氧的放射性威脅。
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