本發明公開了一種SISP指數探測小麥病害的方法,其包括:利用歸一化植被指數(NDVI)和重歸一化植被指數(RDVI)對日光誘導葉綠素熒光(SIF)和光化學指數(PRI)進行處理;利用SIF和PRI構建協同冠層SIF和PRI的SISP指數;利用步驟二中構建的SISP指數進行小麥條銹病的遙感探測。本發明還公開了一種SISP指數的構建方法,其包括對PRI除以RDVI2以及對冠層SIF乘以NDVI進而構建SIF與PRI數據協同的SISP指數。本發明利用NDVI和RDVI處理后的SIF和PRI構建的SISP指數,能夠減弱作物群體生物量對冠層SIF及PRI信號的影響,提高小麥條銹病的遙感監測精度。
聲明:
“SISP指數探測小麥病害方法和SISP指數構建方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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