本發明涉及一種發射率測量裝置的校準方法,屬于紅外測試領域,解決了現有發射率測量裝置校準成本高的問題。校準方法包括:根據需要得到的標準氧化膜的發射率E理論,計算得到標準氧化膜的厚度d;根據氧化膜的厚度d確定電解液的質量濃度c;以質量濃度c的電解液對作為陽極的鋁片進行電化學氧化,在鋁片表面制備得到標準氧化膜;采用傅里葉紅外光譜發射率測量裝置檢測制備得到的標準氧化膜的發射率E測,E測作為標準發射率;用發射率測量裝置測量采用步驟1至步驟3的方法制備得到的一系列已知標準發射率的標準氧化膜,通過測得的數值與標準發射率進行比較,以校準發射率測量裝置。本發明的方法能夠快速進行發射率測量裝置的校準。
聲明:
“發射率測量裝置的校準方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)