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通過阻擋層測量分子濃度的裝置和方法

1144   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 07:24:16
本發明涉及一種用于通過阻擋層和/或以一定距離檢測分子的存在并測量其濃度的裝置和方法,所述裝置和方法利用化學/靜電吸引力(此后稱之為“親合力”)的原理,也即帶電原子和分子之間引起其發生化學相互作用和反應的親合力,根據分子在阻擋層一邊上的行為來推斷相應分子在阻擋層另一邊上的存在和濃度。作為例子并且不具有任何限制意義,本發明可用于非侵入式測量糖尿病患者的葡萄糖水平。
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聲明:
“通過阻擋層測量分子濃度的裝置和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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