本發明公開了一種基于寬離子束拋光?掃描電鏡的孔隙結構表征方法,包括以下步驟:步驟100、對巖心樣品切割獲得樣品薄板,并對所述樣品薄板進行預處理獲得鍍鎢拋光面;步驟200、利用掃描電鏡對所述樣品薄板的鍍鎢拋光面進行順次掃描并拼接形成全景圖;步驟300、基于閾值分割方法篩選孔隙和劃分礦物類型分別形成孔隙圖層、礦物類型圖層;步驟400、將孔隙圖層和礦物類型圖層進行疊合分析,并基于二維微觀圖像的孔隙度預測大尺寸三維柱狀樣品的孔隙度;本發明提供一種在大面積巖石樣品表面直觀研究各礦物相中孔隙形態、孔徑分布與連通性的方法,巖心耗材少,孔隙度預測準確,可廣泛應用于儲層物性評價、成巖作用的研究中。
聲明:
“基于寬離子束拋光-掃描電鏡的孔隙結構表征方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)