本發明提供一種測試鎂純化效果的方法,采用真空蒸餾法在650~1100℃(優選650~750℃)和1~100Pa下對鎂進行真空蒸餾處理,待蒸餾結束后準確獲得剩余物的質量,并輔以X射線能譜分析法、X射線衍射法等測試方法,通過分析蒸餾殘余物中雜質的成分和含量,反推出蒸餾原料鎂的純度。該方法能方便準確地對純鎂純度進行分析測定,省去了光譜法、化學法等復雜的制樣過程,能夠實現對整塊樣品的分析表征,在測試精度上,該方法優于直接使用能譜分析等方法,在高純鎂的制備和生產上可以實現廣泛應用。
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