本發明屬于化學檢測方法技術領域,具體涉及到采用熱電離同位素質譜法測定硼及化合物中硼?10豐度的具體方法。通過本發明技術方案,建立了熱電離同位素質譜法對硼及化合物中硼?10豐度測定方法。通過選擇樣品的點樣方式,基準試劑濃度的標定,升溫電流的最優區間,電流升溫的最佳時間等,以富集3mg碳化硼粉末為測定試料,方法精密度優于0.01%。方法準確可靠,滿足該項目分析技術指標要求。
聲明:
“硼及化合物中硼?10豐度測定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)