本發明提供一種利用X射線熒光光譜法測定鉬制品中鑭含量的方法,采用已知鑭含量的標準樣品進行X射線熒光光譜法測定并制得光譜強度與鑭含量對應的工作曲線,然后待測鉬制品完全氧化后,與混合熔劑熔融制備成樣片,用X射線熒光光譜儀測定樣片中被測元素的特征熒光光譜強度并與工作曲線作對比,從而得到鉬制品中的鑭含量。其測試過程中未使用腐蝕性酸堿對樣品進行化學濕法處理其操作過程簡單,檢測周期短,不使用腐蝕性強酸強堿,比已查到相關期刊或專利樣品處理方法更簡便,樣品熔融稀釋倍率小,熔融時間短,檢測范圍寬,結果穩定性和準確性高,適用于批量生產分析。
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