涉及一種掃描隧道顯微鏡與掃描微電極聯用測 量系統及技術,由掃描隧道顯微鏡(STM)測量平臺,掃描微探 針及控制/驅動單元;隧道電流信號和微區電位信號測量單元及 測量信號的控制和處理單元組成。利用掃描微探針同時檢測表 面隧道電流和表面電位分布,以壓電微掃描和步進電機機械掃 描進行掃描測量模式互換,并利用隧道電流作為掃描微電極到 達樣品表面的指示,實現了掃描微電極尖端與樣品表面距離的 定量控制,可顯著提高表面微區電化學腐蝕電位的分布測量的 空間分辨度。該系統可同時測量納米分辨度的表面形貌圖像和 表面微區電化學活性分布圖像,實現對表面形貌結構—化學活 性的相互關聯研究。為多種表面空間分辨測量技術提供相互結 合、優勢互補、關聯研究的開放平臺。
聲明:
“掃描隧道顯微鏡和掃描微電極聯用測量系統及其測量技術” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)