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探測系統

1144   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-17 01:00:02
本發明涉及篩分裝置(1)中的探測系統,該篩分裝置用于篩分物料,例如集料、礦石或類似物,所述探測系統包括至少一個篩板(2),所述至少一個篩板(2)具有包括一個或多個篩分模塊(4)的篩分表面。該系統包括布置在篩分裝置(2)的至少一個篩板之處或附近的傳感器(5)。此傳感器(5)被布置成使其能夠探測離開至少一個篩板的物體的存在。本發明還涉及用于在篩分裝置中探測物體的方法以及上述探測系統的應用。
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“探測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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