本發明公開了一種基于納米金屬粒子輔助低溫等離子體質譜檢測方法。本發明基于納米金屬粒子輔助低溫等離子體質譜檢測方法,包括如下步驟:將納米金屬粒子與待測樣品混合后采用低溫等離子體質譜法檢測,進行質譜信號分析,即得到所述待測樣品的質譜圖。本發明方法能提高化學毒劑質譜信號1?2個數量級,檢測靈敏度達ng,既能保證對復雜背景下爆炸物的質譜分析具有快速、實時、準確的優點,又能避免剪紙和取樣等冗長而復雜的步驟。
聲明:
“基于納米金屬粒子輔助低溫等離子體質譜檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)