本發明公開了一種基于近紅外光譜技術檢測粒度分布的方法,主要涉及分析化學儀器應用技術領域,包括樣品采集編輯,數據預處理,樣品分析,模型校正,設備安裝,樣品預測,預測結果輸出,采用化學計量學,如果樣品的組成相同,則其光譜也相同,反之亦然。如果我們建立了光譜與待測參數之間的對應關系(稱為分析模型),只要測得樣品的光譜,通過光譜和上述對應關系,就能很快得到所需要的質量參數數據。
聲明:
“基于近紅外光譜技術檢測粒度分布的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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