本發明涉及用于質譜的低壓電子電離和化學電離,提供了一種通過化學電離電離樣品的方法。具體地,通過將樣品和反應劑氣體流入處于低于0.1Torr的壓力下的離子源,通過化學電離電離樣品。在將所述離子源保持在低于0.1Torr的壓力下的同時,通過電子電離在所述離子源中電離所述反應劑氣體,以產生反應劑離子。使得所述樣品與所述反應劑離子在低于0.1Torr的壓力下反應,以產生所述樣品的產物離子。將所述產物離子發送到離子阱中,用于質量分析。
聲明:
“用于質譜的低壓電子電離和化學電離” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)