本發明公開了一種等離子體固樣分析發射光譜儀,包括氣路系統、激發源裝置、固體樣品直接引入裝置(11)、收光裝置及上位機,所述氣路系統連接激發源裝置,收光裝置與上位機相連接;所述固體樣品直接引入裝置(11)用于放置固體樣品(10),且激發源裝置能夠釋放等離子體射流(18)至固體樣品(10)上,等離子體射流(18)與固體樣品(10)表面作用時能夠形成發射光(17)并被收光裝置所接收;克服現有技術的不足之處,在進行固樣分析時,無需對樣品進行復雜的消解處理過程,大大降低了操作過程的繁瑣程度;同時,避免了酸、堿等化學試劑的使用,不會對環境造成污染。
聲明:
“等離子體固樣分析發射光譜儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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