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用于基底的非原位分析的系統和方法

954   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 06:54:50
公開了用于基底的非原位分析的系統和方法。本發明披露了一種用于制作供在非原位TEM、SEM、或STEM程序中使用的不對稱薄層的方法和系統。薄層的形狀提供用于容易定向,從而使得可以在化學分析的TEM、SEM、或STEM程序中來自碳膜最少的光學和光譜干擾的條件下將該薄層內的相關區放置在碳膜內的孔上。
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聲明:
“用于基底的非原位分析的系統和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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