本發明提供一種離子分析裝置,包括:第一離子源,用于提供分析物離子;第二離子源,用于提供輔助離子;輔助離子的正負極性與分析物離子相反,輔助離子的離子云與分析物離子的離子云在空間分布上有重合,且至少部分所述分析物離子不與所述輔助離子產生化學反應;離子分析器,用于對分析物離子進行分析;離子傳輸裝置,位于第一離子源和離子分析器之間,用于使分析物離子傳輸進入離子分析器,并拒絕輔助離子進入離子分析器。本發明可降低或消除大量分析物離子之間的空間電荷效應,進而提高由此條件限制下的離子分析性能,比如靈敏度、分辨率等。
聲明:
“離子分析裝置和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)