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離子分析裝置和方法

821   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 06:54:49
本發明提供一種離子分析裝置,包括:第一離子源,用于提供分析物離子;第二離子源,用于提供輔助離子;輔助離子的正負極性與分析物離子相反,輔助離子的離子云與分析物離子的離子云在空間分布上有重合,且至少部分所述分析物離子不與所述輔助離子產生化學反應;離子分析器,用于對分析物離子進行分析;離子傳輸裝置,位于第一離子源和離子分析器之間,用于使分析物離子傳輸進入離子分析器,并拒絕輔助離子進入離子分析器。本發明可降低或消除大量分析物離子之間的空間電荷效應,進而提高由此條件限制下的離子分析性能,比如靈敏度、分辨率等。
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