本實用新型提出了終點探測裝置和化學機械研磨裝置,用于探測3D晶圓的保留厚度,終點探測裝置包括光源發射器、分光儀和位于光源發射器和分光儀之間的棱鏡組;由光源發射器發射出紅外線,經由棱鏡組到達3D晶圓的表面,3D晶圓表面和內部反射出的紅外線再經由棱鏡組到達分光儀上,并通過分析分光儀上的光線能夠實時得出3D晶圓的保留厚度;所述化學機械研磨裝置包括內部設有終點探測裝置的研磨盤、研磨墊和晶圓承載裝置,晶圓承載裝置位于研磨墊上表面,將終點探測裝置嵌入至機械研磨裝置的研磨盤中,能夠由終點探測裝置實時監測出3D晶圓的保留厚度,能夠提高控制精準度,降低重新研磨的頻率。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)