本發明公開了一種化學發光底物檢驗方法,通過外觀檢查、空白孔觀察、發光值批間差和變異、發光值降幅,發光值線性,對化學發光實驗用發光底物產品進行系列化檢驗,檢驗步驟清晰明了,檢驗全面,檢驗結果真實可靠;全面涵蓋了低中高三個質控范圍,適用范圍廣,且不用在每種試劑盒上單獨檢驗,節約了成本。本發明的檢驗方法簡單,容易操作,具有通用性,按此方法檢驗得到的質量合格的化學發光底物,能滿足所有化學發光反應的正常進行,適用性很強,市面上面所有種類的發光底物的質量是否合格都可以用本發明所提供的方法進行檢驗。
聲明:
“化學發光底物檢驗方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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