本發明提供一種新型的與電化學發光同時測量的超分辨電化學成像測量裝置,示意圖如圖1所示。由計算機1、雙恒電位儀2、壓電晶體控制器3、三維壓電晶體4、光電倍增管檢測系統5、光電倍增管檢測器6、檢測池7、探針8、參比電極9、對電極10和被測基底樣品11組成。其中探針8、參比電極9、對電極10和被測基底樣品11組成四電極檢測系統。雙恒電位儀2用于在探針8和被測基底樣品11之間施加電化學激勵信號,光電倍增管檢測器6檢測電化學發光信號的同時雙恒電位儀2檢測探針8上的電流信號,結合三維壓電晶體4納米級別的位移分辨率來實現超高分辨率的電化學發光信號成像檢測和電化學電流信號成像檢測。該成像系統的成像分辨率取決于探針電極的尺度及探針的空間位移分辨率,因此可以突破以往光學成像分辨率的限制,實現納米級別的成像分辨率。
聲明:
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