本實用新型涉及一種化學芯片分析裝置,包括化學芯片檢測儀,其特征在于:該裝置還包括置于所述化學芯片檢測儀中、呈長方形的化學芯片片基;所述化學芯片片基的正面設有陣列孔窩反應點/處,該陣列孔窩反應點/處內均添加有反應底物;與所述陣列孔窩反應點/處相對應的所述化學芯片片基的背面設有熒光物質點/處,該熒光物質點/處設有熒光物質。本實用新型結構簡單、成本低廉,可使被檢樣品產生多成分、高通量、大規模、標準化的檢測效果。
聲明:
“化學芯片分析裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)