本發明公開了基于金屬增強發光及納米粒子標記放大的雙增強化學發光免疫分析法。本發明基于金屬增強發光及納米粒子標記放大的雙增強化學發光免疫分析法,以金屬納米粒子代替常規的聚苯乙烯納米微球,并在距金屬納米粒子表面5~20nm的隔離層表面標記發光物質,致敏金屬納米粒子上發光物質的化學發光耦合到金屬納米粒子表面的等離子體波中,產生共振后,以更強的光強和更快的衰變速度的形式再發射出去,在傳統的化學發光免疫分析技術基礎上有機地整合了金屬增強發光的技術以及納米粒子的標記放大技術。使得本發明具有靈敏度高,檢測速度快等優勢。
聲明:
“基于金屬增強發光及納米粒子標記放大的雙增強化學發光免疫分析法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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