本發明提供了一種用于檢測微流控芯片的干式化學分析儀,包括升降機構、離心機構、芯片保持機構,所述的芯片保持機構設置有用于鎖緊微流控芯片的芯片固定部件、用于頂壓微流控芯片樣品槽內液體試劑預封裝裝置的芯片穿刺部件,所述的芯片穿刺部件固定在所述的芯片固定部件上,所述的芯片固定部件與所述離心機構連接,所述的升降機構帶動所述離心機構進行升降運動。本發明的用于檢測微流控芯片的干式化學分析儀及微流控芯片,對樣品槽頂部設有液體試劑預封裝裝置刺破端的微流控芯片能實現全程自動化,只需要將待檢樣本加入芯片中,芯片的進入、分離、定位、檢測都可以實現自動化,能快速分離檢測得出各項指標,免去手動轉移芯片和按壓刺破芯片的步驟,大大提高了檢測效率。
聲明:
“用于檢測微流控芯片的干式化學分析儀及微流控芯片” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)