本發明公開了一種芯片檢驗追蹤方法及系統,涉及芯片檢測技術領域,包括數據上傳模塊、參數檢測模塊、設備追蹤模塊以及若干芯片;當參數檢測模塊批量檢測多個芯片時,數據上傳模塊用于檢測員上傳檢測請求至上位機,上位機用于將若干個檢測任務數據包分發至不同的檢測單元,從而實現檢測任務的多樣性組合,提高檢測效率;檢測單元用于解析接收到的檢測任務數據包內容,按照檢測值大小依次執行檢測任務數據包內設置的若干檢測任務,并將檢測數據發送至上位機;設備追蹤模塊用于獲取帶有同一設備標識的檢測數據進行設備追蹤分析,判斷對應設備是否有生產不合格芯片的趨勢,以提醒管理人員對該設備進行檢修,從而提高芯片質量和合格率。
聲明:
“一種芯片檢驗追蹤方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)