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一種芯片自動測試系統及芯片測試方法

845   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 06:31:24
本發明涉及芯片生產技術領域,具體公開了一種芯片自動測試系統及芯片測試方法,該芯片自動測試系統包括喂料單元、傳輸單元、至少一個測試單元以及裝料單元;喂料單元用于儲存第一容器,且可將第一容器中盛放的芯片轉移至傳輸單元,傳輸單元將芯片傳輸至測試單元,測試單元對芯片進行測試作業;裝料單元將完成測試作業的芯片裝入第二容器。上述設置實現了芯片的全自動化生產,并且通過設置多個測試單元,能夠實現單個測試單元進行生產或者多個測試單元同時生產,極大地提高了生產效率,滿足了打印耗材芯片的生產需求。
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“一種芯片自動測試系統及芯片測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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