本實用新型涉及性能測試技術領域,提供一種測試裝置包括:殼體,具有測試空腔;安置部,設置于測試空腔中,且安置部具有用于安置待測試可發光器件的安置位;性能檢測器,設置于測試空腔中,以用于檢測待測試可發光器件的性能;第一溫度傳感器,設置于測試空腔中,以用于檢測待測試可發光器件處的溫度;以及降溫器,設置于測試空腔中或者與測試空腔連通,以用于在第一溫度傳感器所檢測的溫度高于預設值時對測試空腔進行降溫。本實用新型提供的測試裝置,可在溫度高于預設值時對測試空腔進行降溫,避免待測試可發光器件產生的熱量積聚于測試空腔中,從而提高對待測試可發光器件性能測試的準確性。
聲明:
“測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)