本發明涉及硬盤性能測試領域,具體涉及一種基于fio與ipmitool的硬盤來料檢驗方法,實現了對硬盤的自動化檢測,極大地提高了檢測效率以及準確性。技術方案包括:設置來料檢驗需要的循環開關機次數,確定需要收集信息的待測硬盤以及收集硬盤smart信息的方式,通過fio工具對待測硬盤進行IO讀寫,在待測硬盤IO讀寫進行時,通過ipmitool工具進行服務器重啟,強制中斷待測硬盤的IO讀寫過程,并重新啟動服務器運行,重啟后,自動收集所有硬盤的smart信息,并生成測試結果文件存放路徑,將記錄硬盤的smart信息日志文件存放到路徑目錄下,目錄名稱與循環次數相關聯,循環完成后,對整個過程的日志文件進行自動識別、分析、判斷,輸出測試結果。本發明適用于硬盤性能檢測。
聲明:
“基于fio與ipmitool的硬盤來料檢驗方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)