本申請涉及一種光學材料檢測裝置及其對光學材料的檢測方法,涉及檢測裝置的領域,一種光學材料檢測裝置包括基座、光源和檢測組件,基座上豎直設置有若干個檢測樣片,若干個檢測樣片正對設置,檢測樣片的兩端與基座之間均設置有固定組件,固定組件用于使不同厚度的檢測樣片與基座固定連接,光源位于若干個檢測樣片之間,且位于若干個檢測樣片的一端,光源用于發出有色光線,光源與基座之間設置有第一調節組件,第一調節組件用于調節光源對檢測樣片的照射角度,檢測組件用于對檢測樣片的光學反射、透射、吸收性能進行檢測。本申請具有使用一種檢測裝置易于對光學材料進行多種性能檢測的效果。
聲明:
“一種光學材料檢測裝置及其對光學材料的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)