本發明公開了一種具有過程跟蹤保護的磁開關綜合測試儀及其測試方法,包括控制模塊、顯示模塊、性能測試模塊和樣品檢測模塊,所述顯示模塊的輸入端、性能測試模塊的輸入端和所述控制模塊電連接,所述樣品檢測模塊的輸入端和所述功性能測試模塊的輸出端電連接,所述樣品檢測模塊的輸出端和所述控制模塊電連接。所述具有過程跟蹤保護的磁開關綜合測試儀用于磁開關的性能檢測,可同時對多個磁開關進行檢測,檢測速度快,檢測時耗電功率僅為800W,節能環保,自動化程度高,兼容性好,樣品設置完畢,啟動設備即可,無需進行任何過程操作;設備內部硬件不需調整就可實現廣范兼容,其穩定性,可靠性高。
聲明:
“一種具有過程跟蹤保護的磁開關綜合測試儀及其測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)