本發明公開了超導材料性能測量技術領域的一種WIC鑲嵌線銅比測量的方法,包括樣品,所述樣品包括銅槽線和圓芯線,所述銅槽線包裹在所述圓芯線的外表面,還包括以下所述步驟:樣品稱重處理,剝離銅槽線和圓芯線,圓芯線脫銅腐蝕,圓芯線的清潔和干燥,稱重銅比計算和誤差處理,本發明簡便易掌握,縮短了測量周期,硝酸利用率高,測量精度明顯優于現有技術,且減少環境污染,可重復性好,可操作性強,一般工人經過簡單培訓就能掌握,提高了產品性能檢測的效率,節省了硝酸的使用量,保護環境。
聲明:
“一種WIC鑲嵌線銅比測量的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)