本發明具體涉及一種利用正電子湮沒技術檢測介電材料絕緣性能的方法,現有介電材料的絕緣性能檢測方法存在試驗裝置龐大,耗費成本高以及現有方法只能得到材料表層陷阱信息、不能得到體態缺陷的問題。該方法如下:1、加工待測樣品;2、形成檢測組件;3、將檢測組件固定放置在正電子壽命譜測量儀的兩個探測器中間;4、正電子壽命譜測量儀收集到的正電子湮沒事件數到達設定數量時,該待測樣品測量完畢;5、正電子壽命譜測量儀分析得到正電子在介電材料中湮沒的壽命數據,并計算得到正電子在介電材料中湮沒的平均壽命;6、獲取介電材料的缺陷信息;7、獲取介電材料的絕緣性能。
聲明:
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