本發明公開一種半導體制冷產品檢測方法,包括:步驟一:基于各類半導體制冷產品的能效標準,標準工況下,獲取滿足能效及性能要求的合格產品樣本的性能參數;步驟二:選取滿足步驟一中所述性能參數的樣機作為測試標本,獲取測試標本在不同環境溫度下的基準性能參數,以此為數據基礎建立測試結果數據庫;步驟三:通過設置于檢測工位的檢測裝置,獲取檢測工位的當前環境溫度;步驟四:調用測試結果數據庫中,處于當前環境溫度下的基準性能參數,將所調用的基準性能參數與檢測工位上被測產品的測量性能參數進行比較,判斷檢測工位上被測產品是否合格。本發明有效解決半導體制冷產品性能受環境溫度影響大、大批量性能檢測結果是否合格難以判定的問題。
聲明:
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