本發明公開了一種晶閘管帶外電路開展耐壓性能測試的漏電流計算方法,包括:讀取晶閘管阻尼回路的阻尼電容容值Cb和均壓電阻阻值RDC;讀取晶閘管帶外電路開展耐壓性能測試的晶閘管電壓采樣數據U(t);對U(t)進行平滑處理,得到平滑后的波形Us(t);截取一個周期20ms的Us(t)數據;計算所截取的Us(t)數據的最大值Umax、最小值Umin以及最大值最小值出現的時間差t;利用Umax、Umin、t、Cb計算阻尼電容放電電流Icb;再利用Icb計算得到晶閘管漏電流Ith。本發明根據阻尼電容和均壓電阻參數,利用晶閘管電壓的采樣數據計算晶閘管漏電流,一方面避免了晶閘管耐壓性能測試過程中增加電流測點,另一方面也使帶外電路開展晶閘耐壓性能檢測成為可能。
聲明:
“一種晶閘管帶外電路開展耐壓性能測試的漏電流計算方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)