本發明公開了一種天線近場耦合測量裝置及方法。在該測量裝置中,包括電磁屏蔽罩、電磁吸波材料、寬帶天線、高頻接口、定位安裝附件、收發處理組件;其中,所述電磁吸波材料設置內所述電磁屏蔽罩內,所述寬帶天線為多個,設置在所述電磁吸波材料的內圈,所述高頻接口用于與收發處理組件相連接,所述定位安裝附件用于將所述電磁屏蔽罩固定在待測天線的位置。在該測量方法中,通過電磁屏蔽罩、電磁吸波材料構建待測天線共形的等效微波暗室,通過高頻接口接收寬帶天線接收到的電磁波能量并轉發至收發處理組件。本發明所公開的技術方案,提高了性能檢測的準確性和快速檢測能力。
聲明:
“一種天線近場耦合測量裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)