本實用新型公開了一種用于高精度ADC測量的檢測裝置,涉及電子設備領域。本實用新型中:控制器通過溫度控制裝置/加濕裝置對檢測平臺進行溫度/濕度控制,微處理器通過數據采集模塊采集檢測平臺傳輸的數據信息,控制器通過通信模塊與上位機進行信息交互,濕度傳感器感應檢測平臺的濕度數據,溫度傳感器感應檢測平臺的溫度數據,ADC性能檢測儀上設有待測接口,ADC性能檢測儀用于檢測待測ADC芯片的性能參數。本實用新型通過設置檢測平臺對ADC芯片進行檢測,并通過設置溫度控制模塊和加濕模塊對檢測平臺進行溫度/濕度控制,從而檢測出溫度濕度因素對ADC芯片性能的影響,并通過設置通信模塊和上位機進行交互,方便工作人員遠程查看數據及控制。
聲明:
“一種用于高精度ADC測量的檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)