本發明屬于芯片電容器測試領域,具體涉及一種芯片電容器檢測設備,包括用于芯片電容器上料的上料裝置,用于檢測芯片電容器電性能的電性能檢測裝置,用于收納電性能不良品的電性能不良品料盤,用于測試芯片電容器外觀的外觀檢測裝置,用于收納傳送檢測合格的芯片電容器的合格品下料裝置,用于收納外觀不良品的外觀不良料盤,用于吸附抓取芯片電容器,并轉動變換芯片電容器的工位的轉盤傳送裝置;其中,上料裝置、電性能檢測裝置、電性能不良品料盤、外觀檢測裝置、合格品下料裝置、外觀不良料盤成圓形依次排列在轉盤傳送裝置的外側。
聲明:
“一種芯片電容器檢測設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)