本發明公開了一種液晶顯示模組偏光片剝離的撕片檢測系統及方法,所述檢測系統包括偏光片模型建立模塊、偏光片性能檢測模塊和偏光片評價模塊,所述偏光片模型建立模塊用于建立偏光片的正常模型和非正常模型,所述偏光片性能檢測根據偏光片的正常模型和非正常模型,判斷剝離的偏光片是否合格,所述偏光片評價模塊根據剝離的偏光片的合格情況,判斷是否需要對剝離偏光片的加工機器進行檢修,所述偏光片模型建立模塊包括正常模型模塊、劃痕模型模塊和壓痕模型模塊,所述正常模型模塊用于訓練偏光片的正常模型,并存儲偏光片正常模型的特征,所述劃痕模型模塊用于訓練偏光片的劃痕模型,并存儲偏光片劃痕模型的特征。
聲明:
“一種液晶顯示模組偏光片剝離的撕片檢測系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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