本發明公開了一種電子元器件外觀測試裝置,包括底板,所述底板上設置有自前至后依次布置的外觀檢測機構、渦流檢測機構和分料機構,所述外觀檢測機構和渦流檢測機構的上方設置有抓料機構,所述抓料機構用以將產品抓送至外觀檢測機構中進行外觀檢測,并將外觀檢測之后的產品抓送至渦流檢測機構中進行性能檢測,所述分料機構用以將性能檢測之后的產品進行分類收集。本發明一種電子元器件外觀測試裝置具有減小外觀測試誤差、提高工作效率、降低人工成本的優點。
聲明:
“一種電子元器件外觀測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)