本發明提供了一種微區力致發光測量系統,包括力致發光模塊、光源、第一電動反射鏡、第二電動反射鏡、相機和光譜儀,可以進行受外部光源光激活后的發光材料的力致發光性能檢測。發光材料經力致發光模塊加壓發射的熒光先進入相機進行發光面積成像,由外部程序計算力致發光實際面積,與壓力傳感器測得壓力共同計算得到發光材料所受壓強;然后通過切換電動反射鏡角度,發光材料經力致發光模塊加壓發射的熒光被電動反射鏡反射進入光譜儀得到光譜數據,經過分析處理得到發光材料在各壓強下的力致發光特性。所述微區力致發光測量系統可以對發光材料力致發光區域進行精準成像,實現高精度的發光材料力致發光性能檢測。
聲明:
“一種微區力致發光測量系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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