本發明公開了一種集成電路封裝芯片的分類裝置,包括收集口,其特征在于:所述收集口的末端安裝有性能檢測裝置,所述性能檢測裝置的內部安裝有檢測傳送帶,所述檢測傳送帶的表面安裝有彈性電磁鐵,所述彈性電磁鐵的一側電連接有性能檢測電腦,檢測傳送帶的一側安裝有遺漏回收管,所述遺漏回收管的前端安裝有氣動發射閥,所述氣動發射閥的另一側連接有回收軟管,所述回收軟管的另一側與收集口相連,分類傳送帶的上方依次安裝有收集傳送帶,所述收集傳送帶的表面安裝有彈性電磁鐵,所述收集傳送帶的一側安裝有引腳感應組,所述收集傳送帶的下方設置有分類儲存箱,本發明,具有實用性強和可以將芯片密封保存的特點。
聲明:
“一種集成電路封裝芯片的分類裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)